串列式試塊CL-II   串列式試塊CL-III

串列式試塊CL-I、CL-II、CL-III|啟航檢測科技（上海）有限公司現(xiàn)貨優(yōu)惠價供應(yīng)，實物圖片僅供參考，供貨供應(yīng)貨物以實物圖為準(zhǔn)

配套探傷儀EPOCH650 ; EPOCH6LT;  EPOCH6LS;  OmniScan X4;  OmniScan X3和OmniScan X3 64; OmniScan SX ; FOCUS PX / PC / SDK;  USM100/USMGO+/USM88/USM86/USM87/USM36/USM35/USM33等等  探傷儀大量現(xiàn)貨，的服務(wù)您的理想選擇?。?！

串列式試塊CL-I、CL-II、CL-III是用于超聲檢測的重要工具，通常遵循GB/T 11345-2013等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。以下是它們的相關(guān)介紹：

• CL-I：厚度T為30mm，適用于相對較薄工件的檢測，在檢測時可模擬較薄焊縫或結(jié)構(gòu)中的超聲波傳播和反射情況，為調(diào)整檢測參數(shù)和評估檢測結(jié)果提供參考。

• CL-II：厚度T為80mm，適用于中等厚度工件的超聲檢測，對于一些厚度適中的焊縫、板材等結(jié)構(gòu)的檢測，CL-II試塊能夠提供更接近實際情況的檢測模擬，幫助檢測人員確定合適的檢測方法和參數(shù)。

• CL-III：厚度T為120mm，主要用于較厚工件的超聲檢測，針對厚板、大尺寸鍛件等工件的檢測需求，CL-III試塊可以幫助檢測人員校準(zhǔn)檢測設(shè)備，確保在檢測厚工件時能夠準(zhǔn)確地識別和定位缺陷。

標(biāo)簽: 串列式試塊 CL-I試塊

CSK-IB型試塊是依據(jù)GB/T11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)的試塊。具體介紹如下：

• 特點：CSK-IB試塊在CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。

• 用途

• 測定斜探頭的入射點和前沿長度：利用半徑R100mm曲面，將探頭置于曲面上移動，可測定斜探頭的入射點和前沿長度。

• 測定斜探頭的折射角：利用Φ50和1.5mm圓孔，通過測量反射波的角度和位置，可計算出斜探頭的折射角。

• 測定斜探頭聲束軸線的偏離情況：利用試塊直角邊，將探頭靠近直角邊進(jìn)行檢測，可判斷斜探頭聲束軸線是否偏離。

• 測定探傷儀的性能：利用25mm厚度測定探傷儀水平線、垂直線和動態(tài)范圍，評估探傷儀的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

• 調(diào)整探測范圍和掃描速度：利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。

• 測定斜探頭分辨力：利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個臺階孔，觀察不同孔徑反射波的分離情況，測定斜探頭分辨力。

HTUC-300 高溫超聲耦合劑

CG-88 超聲波耦合劑

CG-90 干粉耦合劑

UG-N 超聲波耦合劑（核級）

CG-10 超聲波耦合劑（核級）

黑光燈UV-365SBLCR|啟航檢測科技（上海）有限公司現(xiàn)貨供應(yīng)美國SP手持式LED紫外燈UV-365SBLCR黑光燈

啟航科技提供UV-365SBLCR黑光燈維修、UV-365SBLCR黑光燈計量證書、UV-365SBLCR黑光燈校準(zhǔn)證書、UV-365SBLCR黑光燈使用說明書、UV-365SBLCR黑光燈應(yīng)用及原理等等

植物生理生態(tài)監(jiān)測站性能好-價格優(yōu)...

EPOCH6LS串列式試塊CL-...