串列式試塊CL-II   串列式試塊CL-III

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串列式試塊CL-I、CL-II、CL-III是用于超聲檢測的重要工具，通常遵循GB/T 11345-2013等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。以下是它們的相關(guān)介紹：

• CL-I：厚度T為30mm，適用于相對較薄工件的檢測，在檢測時(shí)可模擬較薄焊縫或結(jié)構(gòu)中的超聲波傳播和反射情況，為調(diào)整檢測參數(shù)和評(píng)估檢測結(jié)果提供參考。

• CL-II：厚度T為80mm，適用于中等厚度工件的超聲檢測，對于一些厚度適中的焊縫、板材等結(jié)構(gòu)的檢測，CL-II試塊能夠提供更接近實(shí)際情況的檢測模擬，幫助檢測人員確定合適的檢測方法和參數(shù)。

• CL-III：厚度T為120mm，主要用于較厚工件的超聲檢測，針對厚板、大尺寸鍛件等工件的檢測需求，CL-III試塊可以幫助檢測人員校準(zhǔn)檢測設(shè)備，確保在檢測厚工件時(shí)能夠準(zhǔn)確地識(shí)別和定位缺陷。

標(biāo)簽: 串列式試塊 CL-I試塊

CSK-IB型試塊是依據(jù)GB/T11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)的試塊。具體介紹如下：

• 特點(diǎn)：CSK-IB試塊在CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。

• 用途

• 測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度：利用半徑R100mm曲面，將探頭置于曲面上移動(dòng)，可測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度。

• 測定斜探頭的折射角：利用Φ50和1.5mm圓孔，通過測量反射波的角度和位置，可計(jì)算出斜探頭的折射角。

• 測定斜探頭聲束軸線的偏離情況：利用試塊直角邊，將探頭靠近直角邊進(jìn)行檢測，可判斷斜探頭聲束軸線是否偏離。

• 測定探傷儀的性能：利用25mm厚度測定探傷儀水平線、垂直線和動(dòng)態(tài)范圍，評(píng)估探傷儀的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

• 調(diào)整探測范圍和掃描速度：利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。

• 測定斜探頭分辨力：利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個(gè)臺(tái)階孔，觀察不同孔徑反射波的分離情況，測定斜探頭分辨力。

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